iPAS AI 應用規劃師初級 115 年第三次 科一 第 35 題 詳解

115 年第三次 科一 人工智慧基礎概論

某半導體製造廠導入AI視覺檢測模型，用於自動判斷晶圓表面是否存在瑕疵。隨著模型正式上線運作，品質管理部門希望了解模型在大量檢測影像中的整體判斷規律，例如哪些影像特徵通常對瑕疵判定結果影響較大，以及模型整體傾向依據哪些特徵進行分類。上述需求屬於可解釋人工智慧（Explainable AI, XAI）中的何種解釋方式？

1. A改善模型的泛化能力並降低過適配風險

   泛化與過適配屬模型效能議題，不是解釋方式。

2. B分析單一樣本的預測結果與決策過程

   局部解釋針對單一樣本，與題目的整體規律不符。

3. C闡述模型整體的決策機制與行為模式（正確答案）

   全域解釋說明模型整體決策機制與特徵傾向，正解。

4. D簡化模型架構以增強其透明度與理解性

   簡化架構是提高透明度的手段，非解釋類型分類。